N타입 156.75mm 단결정 태양 웨이퍼

N타입 156.75mm 단결정 태양 웨이퍼

산업 생산에서 가장 높은 효율성을 특징으로 하는 세포 기술이 n형 Cz-Si 웨이퍼를 기반으로 한다는 사실은 n형 웨이퍼가 고효율 태양전지에 가장 적합한 재료인 이유를 보여주는 놀라운 시연입니다. 세부 사항에 더 가고, n 형 대 p-유형의 우월성에 대 한 몇 가지 물리적 이유가 있다.
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설명
기술적인 매개 변수

CZ silicon crystal growth


Monocrystalline wafer 1


산업 생산에서 가장 높은 효율성을 특징으로 하는 세포 기술이 N형 Cz-Si 웨이퍼를 기반으로 한다는 사실은 n형 웨이퍼가 고효율 태양전지에 가장 적합한 재료인 이유를 보여주는 놀라운 시연입니다. 세부 사항에 더 가고, N 유형 대 P 유형의 우월성에 대한 몇 가지 물리적 이유가 있다, 가장 중요한 것은 다음과 같습니다 :

  • 붕소의 부재로 인해 붕소 산소 복합체로 인해 p 형 시 웨이퍼에서 발생하는 빛 유도 저하 (LID)가 없습니다.

  • N형 Si는 눈에 띄는 금속 불순물에 덜 민감하기 때문에, 일반적으로 n형 Cz-Si의 소수 캐리어 확산 길이는 p형 Cz-Si에 비해 상당히 높다.

  • N형 Si는 B-확산과 같은 고온 공정 에서 분해되기 쉽다.

 

 

1      재질 특성

 

재산

사양

검사 방법

성장 방법

CZ


결정성

단결정

특혜 에칭 기술(ASTM F47-88)

전도도 유형

N형

냅슨 EC-80TPN

도판트

인

-

산소 농도[오이]

≦8E+17/cm3

FTIR (ASTM F121-83)

탄소 농도[Cs]

≦5E+16/cm3

FTIR (ASTM F123-91)

에칭 피트 밀도(탈위치 밀도)

≦500cm-3

특혜 에칭 기술(ASTM F47-88)

표면 방향

<100>±3°

엑스레이 회절 방법(ASTM F26-1987)

의사 사각형 측면의 방향

<010>,<001>±3°

엑스레이 회절 방법(ASTM F26-1987)

 

2      전기적 특성

 

재산

사양

검사 방법

저항력

0.2-2.0 Ω.cm

0.5~3.5 Ω.cm

Ω.0.0

1.5-12 Ω.cm

기타 저항성

웨이퍼 검사 시스템

MCLT (소수 캐리어 수명)

≧1000μs(저항 > 1Ωcm)
 
≧500μs(저항성< 1="">Ωcm)

신턴 과도

 

3      기하학

 

재산

사양

검사 방법

기하학

의사 광장


베벨 가장자리 모양

둥근


웨이퍼 크기

(측면 길이*측면 길이 * 직경

M0: 156*156*φ210mm

M1: 156.75*156.75*φ205mm

M2: 156.75*156.75*φ210mm

웨이퍼 검사 시스템

인접한 측면 사이의 각도

90±3°

웨이퍼 검사 시스템


image




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